“容差”這個詞，對于陶瓷電容（也叫做MLCC，就是我們常說的多層陶瓷電容）來說，是指設(shè)備電容跟標(biāo)稱值之間的偏差。這個偏差主要是因為制造過程中的變化。我們在測試的時候，會有嚴(yán)格的條件，目的就是為了排除其他因素的干擾。

有些人以為這個“容差”是一個固定的范圍，不管什么條件下，測量出來的值都應(yīng)該在這個范圍內(nèi)。很多產(chǎn)品確實是這樣，但陶瓷電容不是。特別是那些基于2類和3類電介質(zhì)的陶瓷電容，它們的電容特性很不穩(wěn)定。所以，如果你隨便測一下，很可能得到一個超出標(biāo)稱值范圍的值。但這不代表這個產(chǎn)品有問題，只是因為這個技術(shù)的特性就是這樣。

想要準(zhǔn)確測陶瓷電容的電容值，有三個因素很關(guān)鍵，那就是測試信號、溫度和時間。

測試信號：比如，下圖展示了直流偏置和交流測試信號振幅對觀測的電容值產(chǎn)生的影響。這張圖來自三星電容CL31A106KAHNNNE的特性表，你看，只是改變一下交流電的振幅，測出來的電容值就會浮動-15%到+10%。如果用直流偏置的話，影響就更大了。所以啊，那些以為所有偏差都在標(biāo)稱的+/-10%容差范圍內(nèi)的人，是不是覺得大吃一驚呢？

溫度：下面這張圖展示了幾個不同溫度特性的電容系列，它們的電容是怎么隨著溫度變化的。除了1類電介質(zhì)的設(shè)備外，其他設(shè)備在工作溫度變化很大的情況下，預(yù)期的最小變化幅度約為10%。不過這張圖只展示了溫度的影響，實際上其他因素還會進(jìn)一步增加觀測的電容值的變化幅度。所以啊，那些以為規(guī)定的“容差”是一個總體概念的人，是不是覺得這是個不受歡迎的意外現(xiàn)實呢？

時間：最后啊，陶瓷電容（不包括1類電介質(zhì)）也會老化，也就是說它們的電容會隨著時間的推移逐漸減少。這種減少是從最后一次加熱到材料特定溫度時開始計算的。這種加熱一般發(fā)生在制造或組裝階段。老化速度取決于材料，而且會不斷累積。每過十倍的時間，電容就會減少幾個百分點(diǎn)。這篇帖子13有更詳細(xì)的描述。時間因素可以增加或掩蓋其他因素對所觀測的電容值的影響（依據(jù)具體情況而定）。所以啊，“容差”并不是所有影響因素的總和。

綜上所述：

“容差”只是影響陶瓷電容觀測值的其中一個因素而已，并不是全部。

其他因素的影響可能遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過指定的容差值。但這并不能算產(chǎn)品有問題或者不符合規(guī)格。

我們用的測試信號、設(shè)備溫度和設(shè)備最后一次去老化后的時間都會影響陶瓷電容的觀測電容。所有這些因素都必須符合廠商的測試條件，這樣我們才能準(zhǔn)確測量出電容是否符合廠商的規(guī)格。

現(xiàn)在市面上的很多萬用表上的電容測量功能其實并不能準(zhǔn)確確定產(chǎn)品是否符合廠商的規(guī)格。

如果你需要一個穩(wěn)定的電容，那就別考慮除了1類電介質(zhì)（C0G或NP0最常見）以外的陶瓷電容了。

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