?3.影響貼片電容容值測量偏低的因素
?（1)測試儀器內部的阻抗大小影響
? 由于不同的測試儀器之間的內部阻抗都不同，造成儀器將總電壓分壓而使加在測試電容兩端的實際電壓變小。在實際的測試過程中，我們有必要先使用萬用表等工具測試夾具兩端的實際電壓，以確定加在測試貼片電容兩端的輸出電壓。
?（2）不同阻抗的測試儀器的輸出電壓對比如下：
? ?儀器內阻100Ω
? ?1V*（100Ω/（100Ω+16Ω））=0.86V
? ?10uF測試電容的兩端電壓：
? ?1V*（16Ω/（100Ω+16Ω））=0.14V
? ?平均電容值讀數：6-7uF
? ?儀器內阻 1.5Ω：
? ?1V*（1.5Ω/（1.5Ω+16Ω））=0.086V
? ?10uF測試電容兩端電壓：
?? 1V*（16Ω（1.5Ω+16Ω））=0.914V
?? 平均電容值讀數：9-10uF
?? 4. 測量環(huán)境條件對測量結果的影響
? ?貼片陶瓷電容系列產品被稱為非溫度補償性元件，即在不同的工作環(huán)境下，電容量會有比較顯著的變化，在不同的工作環(huán)境下，電容標稱值與實際容值之間的差異。例如，在40℃的測試容量將比25℃的測試容量低了接近20%。由此可見，在外部環(huán)境溫度比較高的情況下，電容容值的測試值就會顯得偏低。我們通常建議放置在20℃的環(huán)境下一段時間，使材料處于穩(wěn)定的測試環(huán)境下在進行容值測試。
?? ?5、貼片陶瓷電容產品材料老化現象
材料老化是指電容的容值隨著時間降低的現象，這再所有以鐵電系材料做介電質的材料產品中均有發(fā)生，是一種自然的不可避免的現象。原因是因為內部晶體結構隨溫度和時間產生了變化導致了容值的下降，屬于可逆現象。當對老化的材料施加高于材料居里溫度段時間后（建議進行容值恢復所使用之條件為150℃/1hour），當環(huán)境溫度恢復到常溫后（常溫25℃下放置24小時）,材料的分子結構將會回到原始的狀態(tài)。材料將由此開始老化的又一個循環(huán)，貼片電容的容值將恢復到正常規(guī)格之內。
??? 用以上方式驗證，把測試容量偏低的電容器浸在錫爐或者回流焊后，再進行測試，容值會恢復到正常范圍之間。
